代理专利文献:44534,涉及专利:34574件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(9100)、G01(2924)、G06(2410)、H04(1650)、G03(1617)、H02(1316)、A61(1073)、E04(929)、F16(816)、H10(698)
专利类型分布状况:发明公开(20746)、实用新型(9863)、外观设计(3243)、发明申请(722)
专利不同法律状态数据分布状况:有效专利(12084)、失效专利(11785)、无效专利(7856)、实质审查(2088)、公开(761)
涉及到的主要客户:上海华力微电子有限公司(3183)、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司(2745)、上海华虹宏力半导体制造有限公司(2628)、上海电机学院(2094)、上海微电子装备有限公司(1671)、联合汽车电子有限公司(1636)、武汉新芯集成电路制造有限公司(994)、上海宏力半导体制造有限公司(957)、上海微电子装备(集团)股份有限公司(922)、昆山市周市惠宏服装厂(889)
涉及到的主要发明人:解吉平(889)、严卫忠(349)、不公告发明人(231)、施晓旦(213)、倪雪明(199)、姚建平(199)、梁菊明(199)、蒋建业(199)、龚菊明(194)、杨光军(144)
发明专利授权成功率:49%
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明公开 | 芯片组件及其制造方法、封装结构及其制造方法 | CN122622678A |
| 发明公开 | 闪存器件及其制备方法 | CN122622246A |
| 发明公开 | 分栅快闪存储器的形成方法 | CN122622244A |
| 发明公开 | 封装结构及其制造方法 | CN122622105A |
| 发明公开 | 芯片封装底部填充的模拟系统及方法 | CN122616378A |
| 发明公开 | 芯片测试方法 | CN122613125A |
| 发明公开 | 缺陷定位方法、系统及计算机可读存储介质 | CN122612651A |
| 发明授权 | 半导体装置及其的制备方法、电子设备 | CN121284993B |
| 发明授权 | 闪存的测试结构、版图及其制作方法 | CN120612970B |
| 发明授权 | 基于模拟减法的DPV传感前端电路 | CN116781072B |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 上海华力微电子有限公司 | 3183 |
| 2 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 2745 |
| 3 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 2628 |
| 4 | 上海电机学院 | 2094 |
| 5 | 上海微电子装备有限公司 | 1671 |
| 6 | 联合汽车电子有限公司 | 1636 |
| 7 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 994 |
| 8 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 957 |
| 9 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 922 |
| 10 | 昆山市周市惠宏服装厂 | 889 |
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 解吉平 | 889 |
| 2 | 严卫忠 | 349 |
| 3 | 不公告发明人 | 231 |
| 4 | 施晓旦 | 213 |
| 5 | 倪雪明 | 199 |
| 6 | 姚建平 | 199 |
| 7 | 梁菊明 | 199 |
| 8 | 蒋建业 | 199 |
| 9 | 龚菊明 | 194 |
| 10 | 杨光军 | 144 |
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