该申请人涉及专利文献:1229,涉及专利:837件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(249)、G01(136)、B24(87)、F16(52)、G03(50)、G05(47)、B08(46)、B25(44)、G02(43)、G06(43)
专利类型分布状况:发明公开(770)、实用新型(52)、发明申请(11)、外观设计(4)
专利不同法律状态数据分布状况:有效专利(293)、实质审查(199)、失效专利(167)、无效专利(163)、公开(15)
该领域主要的发明人有:陶利权(50)、陈苏伟(26)、刘永进(19)、左宁(14)、高慧莹(13)、杨师(12)、赵宝君(11)、种宝春(10)、刘玉倩(9)、刘颖(9)
详细地址:中国 北京市 大兴区 北京市大兴区北京经济技术开发区泰河三街 1号 100176
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明公开 | 一种探针台针痕检测方法、装置、电子设备及介质 | CN122612619A |
| 发明公开 | 环境气体控制系统及标定方法 | CN122611364A |
| 发明授权 | 基准装置以及其六自由度调整方法 | CN117849975B |
| 发明公开 | 一种校正参数自动补偿方法、装置、电子设备及介质 | CN122469597A |
| 发明公开 | 一种离轴反射式紫外照明光路 | CN122447668A |
| 发明授权 | 晶圆微动装置及自动化加工生产线 | CN116721947B |
| 发明公开 | 一种光照均匀性补偿方法 | CN122194582A |
| 发明公开 | 一种光斑中心的定位方法及定位系统 | CN122149316A |
| 发明公开 | 腕部关节模块及机械手臂装置 | CN122143111A |
| 发明公开 | 一种投影物镜偏振像差的检测方法、装置、设备及介质 | CN122130220A |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) | 828 |
| 2 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所 | 405 |
| 3 | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) | 7 |
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 陶利权 | 50 |
| 2 | 陈苏伟 | 26 |
| 3 | 刘永进 | 19 |
| 4 | 左宁 | 14 |
| 5 | 高慧莹 | 13 |
| 6 | 杨师 | 12 |
| 7 | 赵宝君 | 11 |
| 8 | 种宝春 | 10 |
| 9 | 刘玉倩 | 9 |
| 10 | 刘颖 | 9 |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 | 310 |
| 2 | 北京超凡宏宇专利代理事务所 | 304 |
| 3 | 北京中建联合知识产权代理事务所 | 274 |
| 4 | 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 | 177 |
| 5 | 北京超凡志成知识产权代理事务所 | 131 |
| 6 | 工业和信息化部电子专利中心 | 27 |
| 7 | 甘肃省专利服务中心 | 6 |
| 8 | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 4 |
| 9 | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 4 |
| 10 | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) | 2 |
| 排名 | 代理人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 朱丽岩 | 223 |
| 2 | 高燕 | 106 |
| 3 | 董金国 | 82 |
| 4 | 严小艳 | 77 |
| 5 | 宋元松 | 60 |
| 6 | 张贰群 | 48 |
| 7 | 毕翔宇 | 48 |
| 8 | 于彬 | 36 |
| 9 | 刘湘舟 | 36 |
| 10 | 刘凤 | 30 |
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