武汉新芯集成电路制造有限公司
该申请人涉及专利文献：2192，涉及专利：1565件
覆盖主要的IPC大类包括：H01(1153)、G01(117)、G11(87)、G03(48)、C23(40)、B24(36)、G06(33)、B08(26)、H10(25)、B25(16)
专利类型分布状况：发明公开(1261)、实用新型(290)、发明申请(14)
专利不同法律状态数据分布状况：有效专利(903)、无效专利(392)、失效专利(137)、实质审查(119)、公开(14)
该领域主要的发明人有：罗清威(59)、叶国梁(48)、薛广杰(37)、梅绍宁(35)、程亚杰(29)、唐原(28)、张超然(26)、赵东光(26)、胡杏(25)、洪齐元(22)
详细地址：中国 湖北省 武汉市 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号 430205
相关专利文献 (2192件)
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明公开 | 存储器件及其制备方法 | CN118234229A |
| 发明公开 | 半导体器件 | CN118136614A |
| 发明公开 | 垂直电荷转移成像传感器及其制作方法 | CN118073377A |
| 发明授权 | 晶圆对准曝光方法及半导体器件 | CN113707540B |
| 发明授权 | 电迁移测试结构及电迁移测试方法 | CN112864131B |
| 发明公开 | 背照式图像传感器及其制造方法 | CN117832240A |
| 发明公开 | 贴膜设备及膜量监控方法 | CN117790390A |
| 发明公开 | 半导体测试结构及半导体测试方法 | CN117766517A |
| 发明授权 | 半导体器件的制作方法及半导体器件 | CN112542378B |
| 发明公开 | 半导体测试结构及半导体测试方法 | CN117727738A |
近10年该领域专利申请趋势
专利分类情况
IPC分类
核心专利文献
相关企业
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 2206 |
相关发明人
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 罗清威 | 59 |
| 2 | 叶国梁 | 48 |
| 3 | 薛广杰 | 37 |
| 4 | 梅绍宁 | 35 |
| 5 | 程亚杰 | 29 |
| 6 | 唐原 | 28 |
| 7 | 张超然 | 26 |
| 8 | 赵东光 | 26 |
| 9 | 胡杏 | 25 |
| 10 | 洪齐元 | 22 |
相关代理机构
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 上海思微知识产权代理事务所 | 986 |
| 2 | 上海申新律师事务所 | 696 |
| 3 | 北京轻创知识产权代理有限公司 | 215 |
| 4 | 深圳市威世博知识产权代理事务所 | 103 |
| 5 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 96 |
| 6 | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 | 83 |
| 7 | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 17 |
| 8 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 10 |
相关代理人
| 排名 | 代理人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 俞涤炯 | 499 |
| 2 | 屈蘅 | 463 |
| 3 | 李时云 | 343 |
| 4 | 曹廷廷 | 278 |
| 5 | 吴俊 | 177 |
| 6 | 杨立 | 156 |
| 7 | 田婷 | 131 |
| 8 | 黎坚怡 | 67 |
| 9 | 党丽 | 38 |
| 10 | 陈薇 | 36 |
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